掃描電鏡分析介紹

掃描電鏡方法是利用掃描電鏡對樣品的結構和性能進行分析的方法。掃描電鏡的基本部件有透鏡系統、電子槍、電子收集器、觀察和記錄影像的陰極射線管等。其基本原理是用極細的電子束在樣品表面上掃描，然后按電視原理放大成像，顯示在電視屏幕上。中科檢測開展掃描電鏡分析服務，具備CMA、CNAS資質認證。

掃描電鏡分析范圍

在石油、地質、礦物領域，電子、半導體領域，醫學、生物學領域，化工、高分子材料領域，公安刑偵工作領域，以及農、林業等方面。

掃描電鏡分析特點

1能夠直接觀察樣品表面的微觀結構，樣品制備過程簡單，對樣品的形狀沒有任何限制，粗糙表面也可以直接觀察；
2樣品在樣品室中可動的自由度非常大，可以作三度空間的平移和旋轉，這對觀察不規則形狀樣品的各個區域細節帶來了方便；
3圖象富有立體感。掃描電鏡的景深是光學顯微鏡的數百倍，是透射電鏡的數十倍，故所得到的圖象立體感比較強；
4放大倍數范圍大，從幾倍到幾十萬倍連續可調。分辨率也比較高，介于光學顯微鏡和透射電鏡之間；
5電子束對樣品的損傷與污染程度小。由于掃描電鏡電子束束流小，且不是固定一點照射樣品表面，而是以光柵掃描方式照射樣品，所以對樣品的損傷與污染程度比較小；
6在觀察樣品微觀形貌的同時，還可以利用從樣品發出的其它物理信號作相應的分析，如微區成分分析。如果在樣品室內安裝加熱、冷卻、彎曲、拉伸等附件，則可以觀察相變、斷裂等動態的變化過程。